集成电路标准精选(最新)

集成电路标准精选(最新)

G4377《GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法和基本原理》 G5965《GB/T5965-2000 集成电路:双极型单片数字集成电路门电路空白详细规范》

G6798《GB/T6798-1996半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 G8976《GB/T8976-1996 膜集成电路和混合膜集成电路总规范》

G9424《GB/T9424-1998 半导体器件集成电路:CMOS数字集成电路4000B 和4000UB 》

G12750《GB/T 12750-2006 半导体器件 集成电路:半导体集成电路分规范(不包括混合电路) 》

G14619《GB/T14619-1993 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片》

G14620《GB/T14620-1993 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片》

G15651.2《GB/T15651.2-2003 半导体器件分立器件和集成电路:光电子器件基本额定值和特性》

G15651.3《GB/T15651.3-2003 半导体器件分立器件和集成电路:光电子器件测试方法》

G16464《GB/T16464-1996 半导体器件集成电路总则》

G16465《GB/T16465-1996 膜集成电路和混合膜集成电路分规范》

G16466《GB/T16466-1996 膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范》 G16878《GB/T16878-1997 用于集成电路制造技术的检测图形单元规范》 G17023《GB/T17023-1997 HCOMS数字集成电路系列族规范》

G17024《GB/T17024-1997 HCOMS数字集成电路空白详细规范》

G17572《GB/T17572-1999 半导体CMOS 集成电路:4000B 和4000UB 系列族规范》 G17573《GB/T17573-1999 半导体分立元件和集成电路:总则》

G17574《GB/T17574-1999 半导体分集成电路:数字集成电路》

G17574.9《GB/T 17574.9-2006 数字集成电路 紫外光擦除电可编程MOS 只读存储器空白详细规范》

G17574.10《GB/T 17574.10-2003 半导体器件 集成电路 第2-10部分:数字集成电路 集成电路动态读/写存储器 空白详细规范》

G17574.11《GB/T 17574.11-2006 数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范》

G17574.20 《GB/T 17574.20-2006 半导体器件 集成电路:数字集成电路 低压集成电路族规范》

G17940《GB/T17940-2000 半导体集成电路:模拟集成电路》

G18500.1《GB/T18500.1-2001 半导体集成电路:线性数字/模拟转换器(DAG )》 G18500.2《GB/T18500.2-2001 半导体集成电路:线性模拟/数字转换器(ADC )》 G19248《GB/T19248-2003 封装引线电阻测试方法》

G19403.1《GB/T19403.1-2003 半导体集成电路内部目检(不包括混合电路)》 G20296《GB/T 20296-2012 集成电路记忆法与符号》

G20515《GB/T 20515-2006 半导体器件 集成电路:半定制集成电路》 G20870.1《GB/T 20870.1-2007 半导体器件:微波集成电路 放大器》

G28639《GB/T 28639-2012 DNA微阵列芯片通用技术条件》

GJ597B 《GJB 597B-2012 半导体集成电路通用规范》

GJ1799《GJB1799-1993 大规模集成电路用磷扩散源化学分析方法》

GJ2438A 《GJB 2438A-2002 混合集成电路通用规范》

GJ3233《GJB3233-1998半导体集成电路失效分析程序和方法》

QJ10006《QJ10006-2008 宇航用半导体集成电路通用规范》

SJ10741《SJ/T10741-2000 半成品集成电路CMOS 电路测试方法的基本原理》 SJ10804《SJ/T10804-2000 半成品集成电路电平转换器测试方法的基本原理》 SJ10805《SJ/T10805-2000 半成品集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 SJ11351《SJ/Z 11351-2006 用于描述、选择和转让的集成电路IP 核属性格式标准》97.80

SJ11352《SJ/Z 11352-2006 集成电路IP 核测试数据交换格式和准则规范》 SJ11353《SJ/Z 11353-2006 集成电路IP 核转让规范》

SJ11354《SJ/Z 11354-2006 集成电路模拟/混合信号IP 核规范》

SJ11355《SJ/Z 11355-2006 集成电路IP/SoC功能验证规范》

SJ11357《SJ/Z 11357-2006 集成电路IP 软核、硬核的结构、性能和物理建模规范》

SJ11358《SJ/Z 11358-2006 集成电路IP 核模型分类法》

SJ11359《SJ/Z 11359-2006 集成电路IP 核开发与集成的功能验证分类法》 SJ11360《SJ/Z 11360-2006 集成电路IP 核信号完整性规范》

SJ11361《SJ/Z 11361-2006 集成电路IP 核保护大纲》

SJ20674《SJ20674-1998微波电路系列和品种微波信号检波器系列的品种》 SJ20675《SJ20675-1998微波电路系列和品种微波固态噪声源系列的品种》 SJ20676《SJ20676-1998通信对抗固态宽频带功率放大模块通用规范》 SJ20677《SJ20677-1998微波集成PIN 单刀开关模块通用规范》

SJ20678《SJ20678-1998交换网络模块通用规范》

SJ20679《SJ20679-1998通信用户接口模块通用规范》

SJ20680《SJ20680-1998通信群路接口模块通用规范》

SJ20711《SJ20711-1998分步投影曝光机通用规范》

SJ20750《SJ20750-1999军用CMOS 电路用抗辐射硅单晶片规范》

SJ20758《SJ20758-1999半导体集成电路CMOS 门阵列器件规范》

SJ20759《SJ20759-1999混合集成电路系列与品种DC/DC变换器系列的品种》 SJ20802《SJ20802-2001集成电路金属外壳目检标准》

SJ20804《SJ20804-2001微波电路系列和品种微波衰减器系列的品种》 SJ20869《SJ 20869-2003 铌酸锂集成光学调制器测试方法》

SJ20874《SJ 20874-2003 表面安装集成电路试验用插座通用规范》 SJ20875《SJ 20875-2003 扁平封装集成电路插座通用规范》

SJ20954《SJ 20954-2006 集成电路锁定试验》

SJ20961《SJ 20961-2006 集成电路 A/D和D/A转换器测试方法的基本原理》 JJG1015《JJG1015-2006 通用数字集成电路测试系统检定规程》

JJF1160《JJF 1160-2006 中小规模数字集成电路测试设备校准规范》 JJF1179《JJF 1179-2007 集成电路高温动态老化系统校准规范》

JJF1238《JJF1238-2010 集成电路静电放电敏感度测试设备校准规范》

集成电路标准精选(最新)

G4377《GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法和基本原理》 G5965《GB/T5965-2000 集成电路:双极型单片数字集成电路门电路空白详细规范》

G6798《GB/T6798-1996半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 G8976《GB/T8976-1996 膜集成电路和混合膜集成电路总规范》

G9424《GB/T9424-1998 半导体器件集成电路:CMOS数字集成电路4000B 和4000UB 》

G12750《GB/T 12750-2006 半导体器件 集成电路:半导体集成电路分规范(不包括混合电路) 》

G14619《GB/T14619-1993 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片》

G14620《GB/T14620-1993 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片》

G15651.2《GB/T15651.2-2003 半导体器件分立器件和集成电路:光电子器件基本额定值和特性》

G15651.3《GB/T15651.3-2003 半导体器件分立器件和集成电路:光电子器件测试方法》

G16464《GB/T16464-1996 半导体器件集成电路总则》

G16465《GB/T16465-1996 膜集成电路和混合膜集成电路分规范》

G16466《GB/T16466-1996 膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范》 G16878《GB/T16878-1997 用于集成电路制造技术的检测图形单元规范》 G17023《GB/T17023-1997 HCOMS数字集成电路系列族规范》

G17024《GB/T17024-1997 HCOMS数字集成电路空白详细规范》

G17572《GB/T17572-1999 半导体CMOS 集成电路:4000B 和4000UB 系列族规范》 G17573《GB/T17573-1999 半导体分立元件和集成电路:总则》

G17574《GB/T17574-1999 半导体分集成电路:数字集成电路》

G17574.9《GB/T 17574.9-2006 数字集成电路 紫外光擦除电可编程MOS 只读存储器空白详细规范》

G17574.10《GB/T 17574.10-2003 半导体器件 集成电路 第2-10部分:数字集成电路 集成电路动态读/写存储器 空白详细规范》

G17574.11《GB/T 17574.11-2006 数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范》

G17574.20 《GB/T 17574.20-2006 半导体器件 集成电路:数字集成电路 低压集成电路族规范》

G17940《GB/T17940-2000 半导体集成电路:模拟集成电路》

G18500.1《GB/T18500.1-2001 半导体集成电路:线性数字/模拟转换器(DAG )》 G18500.2《GB/T18500.2-2001 半导体集成电路:线性模拟/数字转换器(ADC )》 G19248《GB/T19248-2003 封装引线电阻测试方法》

G19403.1《GB/T19403.1-2003 半导体集成电路内部目检(不包括混合电路)》 G20296《GB/T 20296-2012 集成电路记忆法与符号》

G20515《GB/T 20515-2006 半导体器件 集成电路:半定制集成电路》 G20870.1《GB/T 20870.1-2007 半导体器件:微波集成电路 放大器》

G28639《GB/T 28639-2012 DNA微阵列芯片通用技术条件》

GJ597B 《GJB 597B-2012 半导体集成电路通用规范》

GJ1799《GJB1799-1993 大规模集成电路用磷扩散源化学分析方法》

GJ2438A 《GJB 2438A-2002 混合集成电路通用规范》

GJ3233《GJB3233-1998半导体集成电路失效分析程序和方法》

QJ10006《QJ10006-2008 宇航用半导体集成电路通用规范》

SJ10741《SJ/T10741-2000 半成品集成电路CMOS 电路测试方法的基本原理》 SJ10804《SJ/T10804-2000 半成品集成电路电平转换器测试方法的基本原理》 SJ10805《SJ/T10805-2000 半成品集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 SJ11351《SJ/Z 11351-2006 用于描述、选择和转让的集成电路IP 核属性格式标准》97.80

SJ11352《SJ/Z 11352-2006 集成电路IP 核测试数据交换格式和准则规范》 SJ11353《SJ/Z 11353-2006 集成电路IP 核转让规范》

SJ11354《SJ/Z 11354-2006 集成电路模拟/混合信号IP 核规范》

SJ11355《SJ/Z 11355-2006 集成电路IP/SoC功能验证规范》

SJ11357《SJ/Z 11357-2006 集成电路IP 软核、硬核的结构、性能和物理建模规范》

SJ11358《SJ/Z 11358-2006 集成电路IP 核模型分类法》

SJ11359《SJ/Z 11359-2006 集成电路IP 核开发与集成的功能验证分类法》 SJ11360《SJ/Z 11360-2006 集成电路IP 核信号完整性规范》

SJ11361《SJ/Z 11361-2006 集成电路IP 核保护大纲》

SJ20674《SJ20674-1998微波电路系列和品种微波信号检波器系列的品种》 SJ20675《SJ20675-1998微波电路系列和品种微波固态噪声源系列的品种》 SJ20676《SJ20676-1998通信对抗固态宽频带功率放大模块通用规范》 SJ20677《SJ20677-1998微波集成PIN 单刀开关模块通用规范》

SJ20678《SJ20678-1998交换网络模块通用规范》

SJ20679《SJ20679-1998通信用户接口模块通用规范》

SJ20680《SJ20680-1998通信群路接口模块通用规范》

SJ20711《SJ20711-1998分步投影曝光机通用规范》

SJ20750《SJ20750-1999军用CMOS 电路用抗辐射硅单晶片规范》

SJ20758《SJ20758-1999半导体集成电路CMOS 门阵列器件规范》

SJ20759《SJ20759-1999混合集成电路系列与品种DC/DC变换器系列的品种》 SJ20802《SJ20802-2001集成电路金属外壳目检标准》

SJ20804《SJ20804-2001微波电路系列和品种微波衰减器系列的品种》 SJ20869《SJ 20869-2003 铌酸锂集成光学调制器测试方法》

SJ20874《SJ 20874-2003 表面安装集成电路试验用插座通用规范》 SJ20875《SJ 20875-2003 扁平封装集成电路插座通用规范》

SJ20954《SJ 20954-2006 集成电路锁定试验》

SJ20961《SJ 20961-2006 集成电路 A/D和D/A转换器测试方法的基本原理》 JJG1015《JJG1015-2006 通用数字集成电路测试系统检定规程》

JJF1160《JJF 1160-2006 中小规模数字集成电路测试设备校准规范》 JJF1179《JJF 1179-2007 集成电路高温动态老化系统校准规范》

JJF1238《JJF1238-2010 集成电路静电放电敏感度测试设备校准规范》


相关内容

  • 市政工程标准精选(最新)
  • 市政工程标准精选(最新) G28885<GB/T 28885-2012 燃气服务导则> G30428.1<GB/T 30428.1-2013 数字化城市管理信息系统 第1部分:单元网格> G30428.2<GB/T 30428.2-2013 数字化城市管理信息系统 第2 ...

  • 厂房智能化系统设计任务书精选资料
  • 智能化系统设计任务书 项目名称: 建设单位: 设计单位: 编制日期: ****智能化弱电系统工程 *****技术有限公司 *****设计研究院有限公司 2016年2月23日 智能化系统设计任务书 1. 项目概况 1.1工程名称:宁波卓越智能控制技术有限公司智能控制器及商用空调项目智能化弱电系统工程 ...

  • [钢材]钢材理论重量表 钢材型号规格大全 钢材牌号
  • 当前页面导航 模块条件查看 装修材料五金 家饰家纺房产 电器数码办公 美妆打扮护理 女士女装内衣 男士运动户外 鞋帽服装箱包 名牌时尚奢侈 人群医药保健 母婴文教图书 食品茶水特产 日用百货居家 车/建工/农具 日常生活服务 热门行业精选 条件模块筛选 相关行业 钢材-钢板 铝材/铝合金 建筑不锈钢 ...

  • 行政能力测试最新常识精选练习题(绝对有用)
  • 行政能力测试最新常识精选练习题(附答案) 行政能力测试最新常识精选练习题 1.一度电可供一只50瓦的灯泡照明几小时? a.5 b.10 c.20 d.36 答:20 2.酒精灯点燃后,最合理的熄灭方法是( ) a.将灯帽盖上 b.直接用嘴吹灭 c.撒上一层细沙 d.往酒精灯上浇水 答:a 3.下列哪 ...

  • 如何利用各种元器件
  • 吐血奉献 360部电子书 http://218.7.17.204/chaoxing/1/101.rar 怎样使用运算放大器 http://218.7.17.204/chaoxing/1/301.rar 传感器 http://218.7.17.204/chaoxing/1/102.rar 运算放大器应 ...

  • 电工初级技能鉴定
  • 本书是“电气设备实用技术”丛书之一。本书共分6章,主要介绍电灯电路的复线图,变电、配电与动力设备的复线图,电灯电路的基本作业,变电、配电设备的基本作业,以及操作技能考核精眩本书使用大量精美照片,详细介绍初级电工在日常工作及技能考核中遇到的一些问题及注意事项,读者可按书中步骤反复练习,以提高自己的操作 ...

  • 2014年石油行业工具书目
  • 2014年石油行业工具书目 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 <最新石化地质勘探技 ...

  • 形状和位置公差标准精选(最新)
  • 形状和位置公差标准精选(最新) G157<GB/T157-2001 产品几何量技术规范(GPS):圆锥的锥度与锥角系列> G1182<GB/T 1182-2008 产品几何技术规范(GPS)几何公差 形状.方向.位置和跳动公差标注> G1184<GB/T 1184-19 ...

  • 蔬菜水果标准精选(最新)
  • 蔬菜水果标准精选(最新) G7652<GB/T7652-2006八角> G7900<GB/T7900-2008白胡椒> G7901<GB/T7901-2008黑胡椒> G10496<GB/T10496-2002糖料甜菜> G10651<GB/T1 ...