Ｖｏｌ．３２Ｎｏ．５ 河北电力技术 第３２卷第５期Ｏｃｔ．２０１３ ＨＥ２０１３年１０月ＢＥＩＥＬＥＣＴＲＩＣＰＯＷＥＲ
变压器套管介质损耗因数超标原因分析
ＣａｕｓｅＡｎａｌｓｉｓｏｎＯｖｅｒｒｏｏｆｏｆＤｉｅｌｅｃｔｒｉｃＬｏｓｓＦａｃｔｏｒｆｏｒＴｒａｎｓｆｏｒｍｅｒＢｕｓｈｉｎ ｙｐｇ
李 良，王朝阳，王春宇，刘忠顺
（）国网河北省电力公司沧州供电分公司，河北 沧州 ０６１００１
摘要：针对双楼变电站１号主变压器套管例行试验中存在介质损耗因数超标的问题，从介质损耗因数增大原理、直流电认为套管介质阻试验数据和介质损耗数据三方面进行分析，
损耗因数超标的原因是一次导电杆接触不良，并提出防范及判断该类主变压器套管介质损耗超标的建议。
关键词：变压器；套管；介质损耗因数；导电杆；直流电阻；接触不良
：ｒｏｂｌｅｍＡｂｓｔｒａｃｔＦｏｒｔｈｅｄｉｅｌｅｃｔｒｉｃｌｏｓｓｆａｃｔｏｒｏｖｅｒｒｏｏｆｏｆ ｐｐＮｏ．１ｔｒａｎｓｆｏｒｍｅｒｂｕｓｈｉｎｏｆＳｈｕａｎｌｏｕｔｒａｎｓｆｏｒｍｅｒｓｕｂｔｈｅ －ｇｇ ，ｓｔａｔｉｏｎｉｎｔｈｅｒｏｕｔｉｎｅｔｅｓｔａｎａｌｚｅｓｆｒｏｍｔｈｅｔｈｒｅｅｒｅｓｅｃｔｓ ｙｐ，ｔｈａｔａｒｅｔｈｅｄｉｅｌｅｃｔｒｉｃｌｏｓｓｆａｃｔｏｒｔｅｓｔｉｎｒｉｎｃｉｌｅｔｈｅＤＣｒｅ －ｐｐｇ ，，ｓｉｓｔａｎｃｅｔｅｓｔｄａｔａａｎｄｔｈｅｄｉｅｌｅｃｔｒｉｃｌｏｓｓａｎｄｓｏｏｎｃｏｎｓｉｄｅｒｓ ，ｔｈａｔｔｈｅｃａｕｓｅｉｓｏｏｒｃｏｎｔａｃｔｏｆｃｏｎｄｕｃｔｉｖｅｒｏｄａｎｄｕｔｓｆｏｒ －ｐｐｗａｒｄｔｈｅｒｏｏｓａｌａｂｏｕｔｈｏｗｔｏｋｅｅａｗａａｎｄｔｈｅｓｕｅｓ －ｐｐｐｙｇｇ ｔｉｏｎｓｔｏｔｈｉｓｋｉｎｄｓｏｆｔｒａｎｓｆｏｒｍｅｒｂｕｓｈｉｎｄｉｅｌｅｃｔｒｉｃｕｄｅ ｇｊｇ ｌｏｓｓｆａｃｔｏｒ．
：；；；Ｋｅｗｏｒｄｓｔｒａｎｓｆｏｒｍｅｒｂｕｓｈｉｎｄｉｅｌｅｃｔｒｉｃｌｏｓｓｆａｃｔｏｒｃｏｎ －ｇｙ ；；ｏｏｒｄｕｃｔｉｖｅｒｏｄＤＣｒｅｓｉｓｔａｎｃｅｃｏｎｔａｃｔ ｐ中图分类号：ＴＭ２１６．５文献标志码：Ｂ
（）文章编号：１００１９８９８２０１３０５００４４０２－－－
表１ ２２０ｋＶ侧套管介质损耗因数测试数据
相别Ｕ Ｖ Ｗ
解体后）Ｎ（
解体前）Ｎ（
ｔａｎδ０．００２８ ０．００２７７ ０．００２９８ ０．００２８８ ０．０２３８０
／ＣＦ ｐｘ３８６．７ ３８６．７ ３８９．１ ３１３ ３１３．６
／ＣＦｐ０３８３．７ ３８１ ３８３．７ ３１２．１ ３１２．１
／％ＣΔ０．７８１．５１．４０．３５０．４８
／注：Ｃ＝（ＣＣＣ１００％。Δｘ－０）０×
２ 介质损耗因数超标原因分析２．１ 介质损耗因数增大原理
介质损耗因数测试所用仪器ＡＩ６０００Ｅ原理为－ＱＳ１型平衡电桥原理。ＱＳ１型电桥接线原理及电
见图１、图２
。桥平衡时向量图，
１ 套管介质损耗因数超标概况
／某地区双楼变电站１号ＳＦＳＺ１０１８００００２２０－
主变压器容量为１８００００ｋＶＡ，２００８年３月出厂， ２００８年１０月投运，２２０ｋＶ侧中性点套管型号为
，电容３ＣＯＴ５５０８００１２ｐＦ，２００７年１２月出厂， －使用Ａ２００８年１０月投运。２０１０年１月６日，Ｉ－６０００Ｅ仪器对双楼站变电１号主变压器进行例行试
验，当天天气晴，现场环境温度６℃、湿度３在７％，对高压侧（中性点套管介质损耗因数２２０ｋＶ侧）（）测试时，测试数据超过规程要求值，而且与ｔａｎδ）
历史数据比较变化较大。在对套管表面进行干燥、擦拭后，重新测试该套管介质损耗因数，测试数据没有明显变化，见表１。
收稿日期：２０１３０１２５－－
，作者简介：李 良（男，工程师，主要从事电力设备电气试验技术工作。１９８２－）
图１ ＱＳ１
型电桥接线原理
图２ ＱＳ１电桥平衡时向量图
电桥平衡时，介质损耗因数及电容量计算公式如下：
·４４·
ＣＸ＝（Ｒ４／Ｒ３）ＣＮ
（１
）ｔａｎδ＝ωＣ４
Ｒ４（２
）式中：ＣＮ为高压标准电容器，Ｒ４为无感固定电阻，ω为角频率，以上３个量均为定量；Ｒ３为无感可调电阻，Ｃ４为可调电容器，
以上２个量为变量。电桥平衡过程是通过调节Ｒ３和Ｃ４，从而分别改变桥臂电压的大小和相位来实现的。调节Ｒ３可以改变ＵＶＤ的幅值，使之与ＵＵＤ的大小相等，调节Ｃ４时，由于δ很小，所以Ｃ４的数值不大，对Ｚ４的幅值影响很小，也就是对ＵＶＤ的幅值影响很小，只是影响Ｚ４阻抗角的变化，
换言之，决定ＣＸ、ｔａｎδ变化的直接量分别为Ｒ［３和Ｃ４
１］
。只要分析出当ＲＸ增大时Ｃ４如何变化即可得出结论。
式（１）中由于ＣＸ没有变化，Ｒ３没有变化，接线原理ＺＸ支路中ＵＷＤ不变，ＲＸ增大，回路电流ＩＸ减小，Ｒ３没有变化，ＵＵＤ减小。电桥平衡时，由于ＵＶＤ＝ＵＵＤ，因此ＵＶＤ也要减小。在ＣＮ支路中，除Ｃ４外其他量均为定量，要想使ＵＶＤ减小，只能调节Ｃ４使之增大，使电桥达到平衡，由于前面分析Ｃ４的变化决定介质损耗的变化，从而介质损耗因数ｔａｎδ增大。
２．２ 直流电阻试验分析
使用ＢＺＣ３３９１型直流电阻测试仪，采用三通道的测试方式对三相直流电阻同时进行测试。对有中性点引出的星形接线进行测试时，测试原理见图３，测试结果见表２
。
ＲＵＮ＝
ＵＮＩ；ＵＲＶＮ＝ＮＶＩ；ＶＲＷＮ＝ＷＮＩ；
Ｗ
ＩＶ＝ＩＵ＋ＩＷ
图３ 直流电阻测试原理表２ ２２０ｋＶ侧直流电阻数据
分接位置
ＲＵＮ／ｍΩ
ＲＶＮ／ｍΩ
ＲＷＮ／ｍΩ
ΔＲ／％１ ３１３．４ ３１３．８ ３１４．７ ０．４１２ ３０８．６ ３０９．９ ３１０．３ ０．５５３ ３０３．２ ３０４．９ ３０４．７ ０．５６４ ２９８．５ ２９８．７ ３００．１ ０．５３５ ２９３．３ ２９５．１ ２９４．５ ０．６１６ ２８８．６ ２８９．３ ２９０．０ ０．４８７ ２８３．２ ２８５．６ ２８４．５ ０．８４８ ２７８．４ ２８０．０ ２７９．８ ０．５７９ ２７２．３ ２７２．０ ２７２．６ ０．２２１０ ２７７．８ ２７８．６ ２７８．６ ０．２９１１
２８３．１
２８３．８
２８４．４
０．４６
注：Δ
Ｒ为ＲＵＮ、ＲＶＮ、ＲＷＮ三者间最大互差与最小者的比值。从表２可以看出，直流电阻测试数据在合格范围内，三相互差未超出规程规定值２％。通常情况下，如果套管介质损耗因数超标是由一次回路接触不良导致的，
会从直流电阻测试数据上反应出来，但该只套管介质损耗因数超标却未反应到直流电阻测试数据上，主要原因需从试验仪器的测试原理进行分析。
从图３及其计算公式可以看出：ＢＺＣ３３９１型直流电阻测试仪的测试原理为电流电压法，在变压器直流电阻测试过程中电流只在三相绕组中流过，电流回路不经过中性点，
在变压器中性点只是取一个电压信号，中性点套管一次导电杆接触不良增加的阻值相对于电压表的内阻来说很小，对取得电压信号基本没有影响，
同时电流值是不变的，经仪器计算后得出的直流电阻试验数据基本不变。因此，该套管介质损耗因数超标未能通过直流电阻测试数据反应出主要原因。
．３ 介质损耗试验数据分析
高压侧中性点套管测试采用正接线方式，高压侧短封接高压线，中、低压侧短封接地，套管末屏取信号。第１次介质损耗因数试验数据为０．０２８，超过规程要求，且与历史数据比较相差很大，由于主变压器周围无带电设备，
且现场采用正接线方式，基本不存在外界电场干扰。根据试验数据结合现场实际情况及该主变压器周围设备运行情况，经现场初步分析，导致介质损耗因数偏大的原因可能为：试验接线一次回路接触不良（
将军帽松动、导电杆松动或套管末屏接触不良）；套管内部受潮、击穿，表面潮湿、脏污；高压引线与套管夹角太小存在杂散电容。结合电容量综合分析，由于电容量近似相等，相差不
大，可排除套管内部受潮、击穿的可能。介质损耗因数与电容量、一次回路等效电阻关系式：
ｔａｎδ＝Ｐ／Ｑ＝ω
ＣＸＲＸ（３
）由公式（３）可以看出，ＣＸ没有变化，ω为定量，所以导致介质损耗因数增大的量为ＲＸ，因此推断套管一次接触不良，可能的位置在一次导电杆或套管末屏处。
随后对套管进行末屏介质损耗试验，测试数据正常，排除了末屏接触不良的可能，确定导致介质损耗因数超标的原因为套管一次导电杆处连接松动。
．４ 原因确定
综合以上直流电阻和介质损耗数据分析可以看出，由于直流电阻测试过程中电流（下转第５３页）
·４５·
２２
制中靠近绝缘油道侧的接缝位置加垫绝缘纸板，降低损耗，增加防止铁心短路的必要测试手段。检修管理水ｃ．工作人员应提高设备运行维护、把好输变电设备验收关及运行监督关，结合状态平，
检修工作开展设备评估，发现设备运行中存在的问题，及时消除隐患。
正常，目前，该主变压器运行情况良好。
３ 结束语
通过油色谱数据发现变压器异常情况，经过现场电气试验、设备返厂解体，找到了铁心短路故障部位及原因，并进行处理，避免更严重事故的发生，确保了变压器安全稳定运行。
参考文献：
［］／］变压器油中溶解气体分析和判断导则［１ＬＴ７２２－２０００，Ｓ． Ｄ ［］变压器油中气体分析诊断与故障检查［北京：中国２Ｍ］． 操敦奎．
电力出版社，２００５．
［］／，输变电设备状态检修试验规３ＧＤＷ０４１０６３－２０１２１０５００ Ｑ －－
］程［Ｓ．
２．２ 处理效果
该台主变压器检修投运后，油道绝缘值在５０００ 符合标准要求，并对该台主变压器做全项ＭΩ以上，
铁心短路环流故障消除，试验结果均正出厂试验，
其中总烃体常。随后进行了油色谱数据跟踪分析，
／／，积分数为３．注意值为１９４μＬＬ（５０μＬＬ）Ｃ２Ｈ２
／／，的体积分数为０．注意值为５μ数据４８μＬＬ（ＬＬ）（上接第４５页）
回路不经过中性点套管，直流电阻试验数据变化不处理前后２次试验的介质损耗因数数据变化明显；
明显，电容量没有变化。由此可见，套管一次导电杆接触不良是导致其介质损耗因数值超标的根本原因。
对套管一次导电杆螺杆进行解体，在拆除过程中发现一次连接松动。将外部螺帽拆除后直接将短数据封线接于内螺杆处进行测试，ｔａｎ００３５，δ为０．正常。通过对套管一次处理前后的介质损耗因数试验数据分析可知，ｔａｎ０２８变为０．００３５，δ由最初的０．处理前由于一次将军帽导电杆处接触不良，相当于在被试品回路中串入一个电阻，导致有功分量增大，无功分量保持不变，介质损耗角增大。
本文责任编辑：罗晓晓
檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱檱
订货应综合考虑各ａ．在变压器套管的选型上，
方面的因素，选用适合现场检修维护的、结构合理的产品。
各专业工作人ｂ．在对设备的交接验收过程中，员一定要严把质量关，尤其是检修人员要注意细节。试验人员要熟知设备结ｃ．现场试验过程中，
认真检查各个试验环节，结合相关试验数据综合构，
分析，得出正确的试验结论，避免对被试品进行误错判。判、
当采用三相ｄ．现场主变压器直流电阻测试中，同时测试时，需将测试数据与初值进行比较，发现异可采用相间或单相测试的方法来判断是否为中常，
性点引线故障，以便进一步对数据做出正确的判断。应将ｅ．现场测量变压器套管介质损耗因数时，变压器绕组连同中性点短接后接高压引线，以避免变压器绕组电感、变压器本体电容对套管介质损耗和电容量的影响。
构架等杂ｆ．测量时应尽量使套管附近无梯子、物，试验人员远离被试套管，以提高测量准确度。如发．现场测量变压器套管介质损耗因数时，ｇ
现数据异常，应先排除末屏小套管表面脏污、内部断线、接触不良等因素导致的变压器套管介质损耗因数超标现象，避免误判。
参考文献：
［］朱 康．高压电气设备试验方法［北京：中国电力１Ｍ］． 李建明，
出版社，２００１．
［］王寅仲．电气试验［北京：中国电力出版社，２Ｍ］．２００５． 陈天翔，
３ 防范及判定套管介质损耗因数超标的建议
套管介质损耗因数和电容量测量是判断套管绝电容缘状况的一项重要手段。由于套管体积较小，，量较小（几百ｐ因此测量其介质损耗可以较灵敏Ｆ）地反映套管劣化受潮及某些局部缺陷。测量其电容量也可以发现套管电容芯层局部击穿、严重漏油、小
２］
。套管断线及接触不良等缺陷［
鉴于以上分析认为，套管一次导电杆接触不良是导致其介质损耗因数值超标的根本原因。如果简单的从介质损耗因数数据超出规程要求值就判断套很容易出现将合格的套管更换掉，耗管不合格的话，
费大量的人力、物力。因此，在今后的变压器套管选型及其介质损耗因数测试方面提出以下建议。
本文责任编辑：王洪娟
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Ｖｏｌ．３２Ｎｏ．５ 河北电力技术 第３２卷第５期Ｏｃｔ．２０１３ ＨＥ２０１３年１０月ＢＥＩＥＬＥＣＴＲＩＣＰＯＷＥＲ
变压器套管介质损耗因数超标原因分析
ＣａｕｓｅＡｎａｌｓｉｓｏｎＯｖｅｒｒｏｏｆｏｆＤｉｅｌｅｃｔｒｉｃＬｏｓｓＦａｃｔｏｒｆｏｒＴｒａｎｓｆｏｒｍｅｒＢｕｓｈｉｎ ｙｐｇ
李 良，王朝阳，王春宇，刘忠顺
（）国网河北省电力公司沧州供电分公司，河北 沧州 ０６１００１
摘要：针对双楼变电站１号主变压器套管例行试验中存在介质损耗因数超标的问题，从介质损耗因数增大原理、直流电认为套管介质阻试验数据和介质损耗数据三方面进行分析，
损耗因数超标的原因是一次导电杆接触不良，并提出防范及判断该类主变压器套管介质损耗超标的建议。
关键词：变压器；套管；介质损耗因数；导电杆；直流电阻；接触不良
：ｒｏｂｌｅｍＡｂｓｔｒａｃｔＦｏｒｔｈｅｄｉｅｌｅｃｔｒｉｃｌｏｓｓｆａｃｔｏｒｏｖｅｒｒｏｏｆｏｆ ｐｐＮｏ．１ｔｒａｎｓｆｏｒｍｅｒｂｕｓｈｉｎｏｆＳｈｕａｎｌｏｕｔｒａｎｓｆｏｒｍｅｒｓｕｂｔｈｅ －ｇｇ ，ｓｔａｔｉｏｎｉｎｔｈｅｒｏｕｔｉｎｅｔｅｓｔａｎａｌｚｅｓｆｒｏｍｔｈｅｔｈｒｅｅｒｅｓｅｃｔｓ ｙｐ，ｔｈａｔａｒｅｔｈｅｄｉｅｌｅｃｔｒｉｃｌｏｓｓｆａｃｔｏｒｔｅｓｔｉｎｒｉｎｃｉｌｅｔｈｅＤＣｒｅ －ｐｐｇ ，，ｓｉｓｔａｎｃｅｔｅｓｔｄａｔａａｎｄｔｈｅｄｉｅｌｅｃｔｒｉｃｌｏｓｓａｎｄｓｏｏｎｃｏｎｓｉｄｅｒｓ ，ｔｈａｔｔｈｅｃａｕｓｅｉｓｏｏｒｃｏｎｔａｃｔｏｆｃｏｎｄｕｃｔｉｖｅｒｏｄａｎｄｕｔｓｆｏｒ －ｐｐｗａｒｄｔｈｅｒｏｏｓａｌａｂｏｕｔｈｏｗｔｏｋｅｅａｗａａｎｄｔｈｅｓｕｅｓ －ｐｐｐｙｇｇ ｔｉｏｎｓｔｏｔｈｉｓｋｉｎｄｓｏｆｔｒａｎｓｆｏｒｍｅｒｂｕｓｈｉｎｄｉｅｌｅｃｔｒｉｃｕｄｅ ｇｊｇ ｌｏｓｓｆａｃｔｏｒ．
：；；；Ｋｅｗｏｒｄｓｔｒａｎｓｆｏｒｍｅｒｂｕｓｈｉｎｄｉｅｌｅｃｔｒｉｃｌｏｓｓｆａｃｔｏｒｃｏｎ －ｇｙ ；；ｏｏｒｄｕｃｔｉｖｅｒｏｄＤＣｒｅｓｉｓｔａｎｃｅｃｏｎｔａｃｔ ｐ中图分类号：ＴＭ２１６．５文献标志码：Ｂ
（）文章编号：１００１９８９８２０１３０５００４４０２－－－
表１ ２２０ｋＶ侧套管介质损耗因数测试数据
相别Ｕ Ｖ Ｗ
解体后）Ｎ（
解体前）Ｎ（
ｔａｎδ０．００２８ ０．００２７７ ０．００２９８ ０．００２８８ ０．０２３８０
／ＣＦ ｐｘ３８６．７ ３８６．７ ３８９．１ ３１３ ３１３．６
／ＣＦｐ０３８３．７ ３８１ ３８３．７ ３１２．１ ３１２．１
／％ＣΔ０．７８１．５１．４０．３５０．４８
／注：Ｃ＝（ＣＣＣ１００％。Δｘ－０）０×
２ 介质损耗因数超标原因分析２．１ 介质损耗因数增大原理
介质损耗因数测试所用仪器ＡＩ６０００Ｅ原理为－ＱＳ１型平衡电桥原理。ＱＳ１型电桥接线原理及电
见图１、图２
。桥平衡时向量图，
１ 套管介质损耗因数超标概况
／某地区双楼变电站１号ＳＦＳＺ１０１８００００２２０－
主变压器容量为１８００００ｋＶＡ，２００８年３月出厂， ２００８年１０月投运，２２０ｋＶ侧中性点套管型号为
，电容３ＣＯＴ５５０８００１２ｐＦ，２００７年１２月出厂， －使用Ａ２００８年１０月投运。２０１０年１月６日，Ｉ－６０００Ｅ仪器对双楼站变电１号主变压器进行例行试
验，当天天气晴，现场环境温度６℃、湿度３在７％，对高压侧（中性点套管介质损耗因数２２０ｋＶ侧）（）测试时，测试数据超过规程要求值，而且与ｔａｎδ）
历史数据比较变化较大。在对套管表面进行干燥、擦拭后，重新测试该套管介质损耗因数，测试数据没有明显变化，见表１。
收稿日期：２０１３０１２５－－
，作者简介：李 良（男，工程师，主要从事电力设备电气试验技术工作。１９８２－）
图１ ＱＳ１
型电桥接线原理
图２ ＱＳ１电桥平衡时向量图
电桥平衡时，介质损耗因数及电容量计算公式如下：
·４４·
ＣＸ＝（Ｒ４／Ｒ３）ＣＮ
（１
）ｔａｎδ＝ωＣ４
Ｒ４（２
）式中：ＣＮ为高压标准电容器，Ｒ４为无感固定电阻，ω为角频率，以上３个量均为定量；Ｒ３为无感可调电阻，Ｃ４为可调电容器，
以上２个量为变量。电桥平衡过程是通过调节Ｒ３和Ｃ４，从而分别改变桥臂电压的大小和相位来实现的。调节Ｒ３可以改变ＵＶＤ的幅值，使之与ＵＵＤ的大小相等，调节Ｃ４时，由于δ很小，所以Ｃ４的数值不大，对Ｚ４的幅值影响很小，也就是对ＵＶＤ的幅值影响很小，只是影响Ｚ４阻抗角的变化，
换言之，决定ＣＸ、ｔａｎδ变化的直接量分别为Ｒ［３和Ｃ４
１］
。只要分析出当ＲＸ增大时Ｃ４如何变化即可得出结论。
式（１）中由于ＣＸ没有变化，Ｒ３没有变化，接线原理ＺＸ支路中ＵＷＤ不变，ＲＸ增大，回路电流ＩＸ减小，Ｒ３没有变化，ＵＵＤ减小。电桥平衡时，由于ＵＶＤ＝ＵＵＤ，因此ＵＶＤ也要减小。在ＣＮ支路中，除Ｃ４外其他量均为定量，要想使ＵＶＤ减小，只能调节Ｃ４使之增大，使电桥达到平衡，由于前面分析Ｃ４的变化决定介质损耗的变化，从而介质损耗因数ｔａｎδ增大。
２．２ 直流电阻试验分析
使用ＢＺＣ３３９１型直流电阻测试仪，采用三通道的测试方式对三相直流电阻同时进行测试。对有中性点引出的星形接线进行测试时，测试原理见图３，测试结果见表２
。
ＲＵＮ＝
ＵＮＩ；ＵＲＶＮ＝ＮＶＩ；ＶＲＷＮ＝ＷＮＩ；
Ｗ
ＩＶ＝ＩＵ＋ＩＷ
图３ 直流电阻测试原理表２ ２２０ｋＶ侧直流电阻数据
分接位置
ＲＵＮ／ｍΩ
ＲＶＮ／ｍΩ
ＲＷＮ／ｍΩ
ΔＲ／％１ ３１３．４ ３１３．８ ３１４．７ ０．４１２ ３０８．６ ３０９．９ ３１０．３ ０．５５３ ３０３．２ ３０４．９ ３０４．７ ０．５６４ ２９８．５ ２９８．７ ３００．１ ０．５３５ ２９３．３ ２９５．１ ２９４．５ ０．６１６ ２８８．６ ２８９．３ ２９０．０ ０．４８７ ２８３．２ ２８５．６ ２８４．５ ０．８４８ ２７８．４ ２８０．０ ２７９．８ ０．５７９ ２７２．３ ２７２．０ ２７２．６ ０．２２１０ ２７７．８ ２７８．６ ２７８．６ ０．２９１１
２８３．１
２８３．８
２８４．４
０．４６
注：Δ
Ｒ为ＲＵＮ、ＲＶＮ、ＲＷＮ三者间最大互差与最小者的比值。从表２可以看出，直流电阻测试数据在合格范围内，三相互差未超出规程规定值２％。通常情况下，如果套管介质损耗因数超标是由一次回路接触不良导致的，
会从直流电阻测试数据上反应出来，但该只套管介质损耗因数超标却未反应到直流电阻测试数据上，主要原因需从试验仪器的测试原理进行分析。
从图３及其计算公式可以看出：ＢＺＣ３３９１型直流电阻测试仪的测试原理为电流电压法，在变压器直流电阻测试过程中电流只在三相绕组中流过，电流回路不经过中性点，
在变压器中性点只是取一个电压信号，中性点套管一次导电杆接触不良增加的阻值相对于电压表的内阻来说很小，对取得电压信号基本没有影响，
同时电流值是不变的，经仪器计算后得出的直流电阻试验数据基本不变。因此，该套管介质损耗因数超标未能通过直流电阻测试数据反应出主要原因。
．３ 介质损耗试验数据分析
高压侧中性点套管测试采用正接线方式，高压侧短封接高压线，中、低压侧短封接地，套管末屏取信号。第１次介质损耗因数试验数据为０．０２８，超过规程要求，且与历史数据比较相差很大，由于主变压器周围无带电设备，
且现场采用正接线方式，基本不存在外界电场干扰。根据试验数据结合现场实际情况及该主变压器周围设备运行情况，经现场初步分析，导致介质损耗因数偏大的原因可能为：试验接线一次回路接触不良（
将军帽松动、导电杆松动或套管末屏接触不良）；套管内部受潮、击穿，表面潮湿、脏污；高压引线与套管夹角太小存在杂散电容。结合电容量综合分析，由于电容量近似相等，相差不
大，可排除套管内部受潮、击穿的可能。介质损耗因数与电容量、一次回路等效电阻关系式：
ｔａｎδ＝Ｐ／Ｑ＝ω
ＣＸＲＸ（３
）由公式（３）可以看出，ＣＸ没有变化，ω为定量，所以导致介质损耗因数增大的量为ＲＸ，因此推断套管一次接触不良，可能的位置在一次导电杆或套管末屏处。
随后对套管进行末屏介质损耗试验，测试数据正常，排除了末屏接触不良的可能，确定导致介质损耗因数超标的原因为套管一次导电杆处连接松动。
．４ 原因确定
综合以上直流电阻和介质损耗数据分析可以看出，由于直流电阻测试过程中电流（下转第５３页）
·４５·
２２
制中靠近绝缘油道侧的接缝位置加垫绝缘纸板，降低损耗，增加防止铁心短路的必要测试手段。检修管理水ｃ．工作人员应提高设备运行维护、把好输变电设备验收关及运行监督关，结合状态平，
检修工作开展设备评估，发现设备运行中存在的问题，及时消除隐患。
正常，目前，该主变压器运行情况良好。
３ 结束语
通过油色谱数据发现变压器异常情况，经过现场电气试验、设备返厂解体，找到了铁心短路故障部位及原因，并进行处理，避免更严重事故的发生，确保了变压器安全稳定运行。
参考文献：
［］／］变压器油中溶解气体分析和判断导则［１ＬＴ７２２－２０００，Ｓ． Ｄ ［］变压器油中气体分析诊断与故障检查［北京：中国２Ｍ］． 操敦奎．
电力出版社，２００５．
［］／，输变电设备状态检修试验规３ＧＤＷ０４１０６３－２０１２１０５００ Ｑ －－
］程［Ｓ．
２．２ 处理效果
该台主变压器检修投运后，油道绝缘值在５０００ 符合标准要求，并对该台主变压器做全项ＭΩ以上，
铁心短路环流故障消除，试验结果均正出厂试验，
其中总烃体常。随后进行了油色谱数据跟踪分析，
／／，积分数为３．注意值为１９４μＬＬ（５０μＬＬ）Ｃ２Ｈ２
／／，的体积分数为０．注意值为５μ数据４８μＬＬ（ＬＬ）（上接第４５页）
回路不经过中性点套管，直流电阻试验数据变化不处理前后２次试验的介质损耗因数数据变化明显；
明显，电容量没有变化。由此可见，套管一次导电杆接触不良是导致其介质损耗因数值超标的根本原因。
对套管一次导电杆螺杆进行解体，在拆除过程中发现一次连接松动。将外部螺帽拆除后直接将短数据封线接于内螺杆处进行测试，ｔａｎ００３５，δ为０．正常。通过对套管一次处理前后的介质损耗因数试验数据分析可知，ｔａｎ０２８变为０．００３５，δ由最初的０．处理前由于一次将军帽导电杆处接触不良，相当于在被试品回路中串入一个电阻，导致有功分量增大，无功分量保持不变，介质损耗角增大。
本文责任编辑：罗晓晓
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订货应综合考虑各ａ．在变压器套管的选型上，
方面的因素，选用适合现场检修维护的、结构合理的产品。
各专业工作人ｂ．在对设备的交接验收过程中，员一定要严把质量关，尤其是检修人员要注意细节。试验人员要熟知设备结ｃ．现场试验过程中，
认真检查各个试验环节，结合相关试验数据综合构，
分析，得出正确的试验结论，避免对被试品进行误错判。判、
当采用三相ｄ．现场主变压器直流电阻测试中，同时测试时，需将测试数据与初值进行比较，发现异可采用相间或单相测试的方法来判断是否为中常，
性点引线故障，以便进一步对数据做出正确的判断。应将ｅ．现场测量变压器套管介质损耗因数时，变压器绕组连同中性点短接后接高压引线，以避免变压器绕组电感、变压器本体电容对套管介质损耗和电容量的影响。
构架等杂ｆ．测量时应尽量使套管附近无梯子、物，试验人员远离被试套管，以提高测量准确度。如发．现场测量变压器套管介质损耗因数时，ｇ
现数据异常，应先排除末屏小套管表面脏污、内部断线、接触不良等因素导致的变压器套管介质损耗因数超标现象，避免误判。
参考文献：
［］朱 康．高压电气设备试验方法［北京：中国电力１Ｍ］． 李建明，
出版社，２００１．
［］王寅仲．电气试验［北京：中国电力出版社，２Ｍ］．２００５． 陈天翔，
３ 防范及判定套管介质损耗因数超标的建议
套管介质损耗因数和电容量测量是判断套管绝电容缘状况的一项重要手段。由于套管体积较小，，量较小（几百ｐ因此测量其介质损耗可以较灵敏Ｆ）地反映套管劣化受潮及某些局部缺陷。测量其电容量也可以发现套管电容芯层局部击穿、严重漏油、小
２］
。套管断线及接触不良等缺陷［
鉴于以上分析认为，套管一次导电杆接触不良是导致其介质损耗因数值超标的根本原因。如果简单的从介质损耗因数数据超出规程要求值就判断套很容易出现将合格的套管更换掉，耗管不合格的话，
费大量的人力、物力。因此，在今后的变压器套管选型及其介质损耗因数测试方面提出以下建议。
本文责任编辑：王洪娟
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